ATP5020P：賦能二維材料光學(xué)研究，助力PdSe?多功能光電器件突破
在現(xiàn)代光電集成器件中，如何在單一材料平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)光探測(cè)、光波導(dǎo)與光調(diào)制等多種功能，一直是科研與產(chǎn)業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn)。
近日，一項(xiàng)發(fā)表于《Nature Communications》 的重要研究《Multifunctional van der Waals PdSe? for light detection, guiding and modulation》中，奧譜天成ATP5020P光纖光譜儀為揭示PdSe?的寬帶光學(xué)特性提供了可靠的數(shù)據(jù)支撐。
研究背景：PdSe?的多功能光學(xué)特性
PdSe?作為一種具有正交晶系的層狀范德華材料，在不同波長(zhǎng)范圍內(nèi)展現(xiàn)出半導(dǎo)體、高折射率介質(zhì)和類金屬三種光學(xué)行為，使其成為理想的多功能光電集成平臺(tái)。為了全面表征其各向異性光學(xué)常數(shù)，研究團(tuán)隊(duì)采用了偏振分辨反射譜測(cè)量技術(shù)，而其中核心的光譜采集設(shè)備正是ATP5020P光纖光譜儀。
在該研究中，研究人員搭建了一套分體式偏振分辨反射率測(cè)量系統(tǒng)，將顯微鏡、偏振器與ATP5020P光譜儀相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了在550–900 nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)對(duì)PdSe?薄片在不同偏振方向下的反射率精確測(cè)量。
這些數(shù)據(jù)為后續(xù)提取PdSe?沿不同晶軸的復(fù)折射率（n+ik）奠定了實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。
ATP5020P的技術(shù)優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)：
高靈敏度與寬光譜范圍：覆蓋從可見(jiàn)到近紅外波段，滿足多維度光學(xué)表征需求。
模塊化設(shè)計(jì)：可與顯微鏡、偏振器等光學(xué)部件靈活集成，適用于分體式或集成式光學(xué)系統(tǒng)。
偏振分辨能力：支持對(duì)各向異性材料（如PdSe?）在不同晶軸方向的光學(xué)響應(yīng)進(jìn)行精確測(cè)量。
小光斑測(cè)量：結(jié)合高倍物鏡，實(shí)現(xiàn)對(duì)微米級(jí)樣品的局部光譜采集。
應(yīng)用拓展：ATP5020P在光電材料研究中的潛力
除了在PdSe?研究中的應(yīng)用，ATP5020P光纖光譜儀還適用于：
二維材料光學(xué)常數(shù)提取（如MoS?、WS?、黑磷等）；
微區(qū)反射/透射光譜測(cè)量；
偏振分辨光譜分析；
光電探測(cè)器響應(yīng)譜標(biāo)定；
納米光子器件性能評(píng)估；
參考文獻(xiàn)
1. Slavich, A., Ermolaev, G., Pak, N. et al. Multifunctional van der Waals PdSe2 for light detection, guiding and modulation. Nat Commun 16, 9201 (2025).
結(jié)語(yǔ)
奧譜天成ATP5020P光纖光譜儀憑借其高精度、靈活集成與寬譜段覆蓋的特點(diǎn)，已成為現(xiàn)代光電材料研究中不&可&或&缺的光學(xué)測(cè)量工具。
在PdSe?等多功能范德華材料的研究中，它為我們理解材料本質(zhì)、推動(dòng)器件集成提供了堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。未來(lái)，我們將繼續(xù)攜手科研與產(chǎn)業(yè)伙伴，用先進(jìn)的光譜技術(shù)，照亮光電集成的創(chuàng)新之路。
