奧譜天成 ATP7330 超高分辨率光柵光譜儀

產(chǎn)品概述

• ATP7330 是奧譜天成集 20 年光譜儀研制經(jīng)驗(yàn)，歷經(jīng) 5 年潛心研發(fā)推出的超高分辨率掃描型光柵光譜儀系列。儀器采用 C-T（Czerny-Turner）結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，搭配超環(huán)面慧差校準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)與 M 型光路，確保在寬光譜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀的光譜分辨率與成像質(zhì)量。

• ATP7330 系列提供四款不同焦距型號(hào)（210mm、350mm、510mm、810mm），最大光譜覆蓋范圍達(dá) 150 nm～25 μm，光學(xué)分辨率最高可達(dá) 0.01 nm（10 pm），遠(yuǎn)超常規(guī)光譜儀性能。儀器內(nèi)置塔式轉(zhuǎn)動(dòng)光柵，可容納 2～4 片反射光柵，支持 90、150、300、400、500、600、900、1200、1800、2400、3600 線等多種光柵規(guī)格，通過軟件控制即可精準(zhǔn)切換光柵與波長(zhǎng)，滿足不同波段與分辨率的靈活需求。

• ATP7330 支持 SMA905 光纖輸入與自由空間輸入兩種光路耦合方式，并可選配電動(dòng)可編程入射狹縫，實(shí)現(xiàn)狹縫寬度的遠(yuǎn)程精確調(diào)控。雙出口設(shè)計(jì)可同時(shí)配置兩個(gè)探測(cè)器，配合奧譜天成豐富的探測(cè)器矩陣（涵蓋 PMT、CCD、InGaAs、MCT、PbS、熱釋電等多種類型），從紫外到遠(yuǎn)紅外全覆蓋，為科研人員提供了極為寬廣的實(shí)驗(yàn)拓展空間。整機(jī)僅需 +12V/24V 直流供電，所有功能均可通過 USB 2.0 或 UART 端口由計(jì)算機(jī)軟件遠(yuǎn)程控制，使用便捷。

產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

• 超高分辨率：光學(xué)分辨率最高可達(dá) 0.01 nm（10 pm），在拉曼光譜、熒光光譜等對(duì)分辨率要求?的應(yīng)用中表現(xiàn)優(yōu)秀，能夠清晰分辨細(xì)微的光譜特征與峰位差異。

• 四款焦距可選：提供 210mm、350mm、510mm 和 810mm 四種焦距型號(hào)，從緊湊型桌面應(yīng)用到大型精密光譜系統(tǒng)，均可靈活匹配，兼顧分辨率與通光量的最佳平衡。

• 超寬光譜覆蓋：最大波長(zhǎng)范圍 150 nm～25 μm，涵蓋紫外、可見光、近紅外、短波紅外乃至中遠(yuǎn)紅外波段，僅需更換合適光柵即可實(shí)現(xiàn)全波段覆蓋，一臺(tái)儀器滿足多波段實(shí)驗(yàn)需求。

• 塔輪光柵快速切換：采用塔式轉(zhuǎn)動(dòng)光柵設(shè)計(jì)，內(nèi)置 2～4 片反射光柵，光柵轉(zhuǎn)動(dòng)角度精度達(dá) 0.36 μrad，通過軟件控制即可精準(zhǔn)定位光柵與目標(biāo)波長(zhǎng)，切換高效且重復(fù)性優(yōu)異。

• 雙出口雙探測(cè)器：支持雙入口（SMA905 光纖接口與自由空間）與雙出口配置，可同時(shí)安裝兩個(gè)不同類型的探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)寬光譜范圍或雙通道同步檢測(cè)，大幅提升實(shí)驗(yàn)效率。

• 豐富的探測(cè)器矩陣：可選配 PMT、Si CCD、InGaAs CCD、MCT、PbS、熱釋電、EMCCD、SCCMOS 等多種探測(cè)器，覆蓋從單點(diǎn)探測(cè)到面陣成像的完整需求，制冷溫度低至 -190℃，滿足弱光探測(cè)的要求。

• 可編程狹縫控制：提供 5 μm～200 μm 多種固定狹縫及可調(diào)寬度狹縫，支持電動(dòng)與手動(dòng)兩種驅(qū)動(dòng)方式，狹縫寬度可通過軟件遠(yuǎn)程編程調(diào)節(jié)，適配不同光通量與分辨率需求。

• 高動(dòng)態(tài)范圍與高靈敏度：SCMOS 與 CCD 動(dòng)態(tài)范圍大于 1400，短波紅外 InGaAs 動(dòng)態(tài)范圍大于 10000，ADC 位深達(dá) 18 bit（輸出 16 bit），積分時(shí)間覆蓋 10 μs 至 1.3 小時(shí)，確保從強(qiáng)信號(hào)到極弱熒光的精準(zhǔn)捕捉。

• 全計(jì)算機(jī)智能控制：所有功能（光柵轉(zhuǎn)換、波長(zhǎng)掃描、狹縫調(diào)節(jié)等）均通過 USB 2.0 或 UART 端口由計(jì)算機(jī)軟件電動(dòng)控制，操作便捷，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)輸出，便于自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)與遠(yuǎn)程監(jiān)控。

• 多類型附件擴(kuò)展：提供光纖束、濾波轉(zhuǎn)輪、光源、波長(zhǎng)校準(zhǔn)與強(qiáng)度校準(zhǔn)系統(tǒng)等豐富附件，17 種光柵可選，支持高度定制化，滿足各類科研與工業(yè)光譜應(yīng)用的特殊需求。

• 寬溫域工作環(huán)境：工作溫度 -20℃～+45℃，存儲(chǔ)溫度 -30℃～+70℃，最大濕度 < 90%RH（不結(jié)露），適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室與現(xiàn)場(chǎng)等多種使用環(huán)境。

產(chǎn)品應(yīng)用

• 拉曼光譜：適用于拉曼散射光譜的快速高精度采集，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)分析、藥物檢測(cè)等領(lǐng)域，可清晰分辨拉曼位移峰位，助力分子結(jié)構(gòu)分析。

• 熒光光譜：支持穩(wěn)態(tài)熒光與時(shí)間分辨熒光測(cè)量，適用于熒光探針研究、生物分子標(biāo)記、量子點(diǎn)及熒光材料的光譜表征。

• 光致發(fā)光光譜：用于半導(dǎo)體材料、納米晶體、發(fā)光二極管（LED）、太陽(yáng)能電池等光致發(fā)光特性的高分辨率測(cè)量與分析。

• 吸收光譜：適用于氣體、液體、固體樣品的紫外-可見-近紅外吸收光譜測(cè)量，可用于濃度分析、純度檢測(cè)及光學(xué)材料表征。

• 反射光譜：用于材料表面反射率的精確測(cè)量，適用于薄膜厚度檢測(cè)、涂層分析、光學(xué)元件反射特性評(píng)估等。

• 透射光譜：用于光學(xué)窗口、濾光片、光纖等元件的透射率測(cè)量，評(píng)估光學(xué)系統(tǒng)的光譜傳輸性能。

• 其他光譜應(yīng)用：可根據(jù)科研與工業(yè)需求靈活擴(kuò)展，適用于等離子體光譜、原子發(fā)射光譜、光化學(xué)過程監(jiān)測(cè)等多種前沿光譜研究領(lǐng)域。