CIOE 2026直擊 | 國產OSA能否替代進口？奧譜天成在深圳光博會現場給出答案
第27屆中國國際光電博覽會（CIOE 2026）今日在深圳國際會展中心正式拉開帷幕。作為全球光電產業的風向標，本屆博覽會匯聚了來自激光、光通信、先進制造等領域的頂尖企業與專家學者，共同探討前沿技術與產業升級路徑。
在展會期間舉辦的“激光微納加工先進制造論壇"上，奧譜天成董事長劉鴻飛博士受邀發表了題為《光譜分析儀（OSA）的國產替代與應用》的專題演講，從產業需求、技術壁壘到國產化實踐，分享了奧譜天成在推動關鍵光學檢測設備自主可控方面的思考與實踐。
光電產業越向前，測量工具越關鍵
激光、光通信、半導體等產業的發展，對光譜分析能力提出了越來越高的要求。
激光器需要精準測量波長、線寬、功率譜等關鍵參數；光通信領域需要對DWDM、OSNR、EDFA等進行高精度測試；半導體與新材料研發同樣離不開精密的光譜表征。
光譜儀器是激光與光通信領域的核心基礎設施。
但光譜儀器長期存在進口依賴。劉鴻飛博士在演講中指出，光譜儀器的國產化并非簡單的產品替代，而是對核心光學器件、精密制造、算法軟件、行業生態以及市場應用等綜合能力的考驗。
這也意味著，國產OSA真正需要突破的，不只是“有沒有"，而是能不能超越水平，并真正進入產業核心應用。
ATM6370 回應光譜分析需求
奧譜天成致力于為光電產業鏈提供高性能、高可靠性的本土化測試解決方案。自主研發的 ATM6370超高分辨率光譜分析儀(OSA)，匯集了奧譜天成在光路設計、精密制造與算法開發上的技術積累，為激光微納加工、光通信及科研提供了強有力的檢測支撐。
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光學性能
超高分辨率：采用雙光柵雙通光路架構與高密度刻線全息閃耀光柵，最高波長分辨率可達0.02 nm
高動態范圍與超低雜散光：實現 78 dB的動態范圍與低至 -90 dBm的功率靈敏度
全波段與高國產化率：光譜覆蓋300nm–5500nm，核心光學結構與控制芯片國產化率達 95%，保障了供應鏈的安全與穩定
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智能化交互與高效系統集成
現代工業級交互：配備 14 寸高清觸控屏，基于 Android操作系統開發，提供直觀便捷的操作界面與數據呈現
內置專業分析算法：集成 DWDM (OSNR)、EDFA、DFB-LD/FP-LD光源測試等套件，并內置自動波長校準功能
多元接口支持：提供 LAN、WIFI、USB等標準化通信接口，便于快速接入自動化測試產線與實驗室數據管理系統
賦能多領域應用，助力產業高質量發展
ATM6370光譜分析儀（OSA）憑借超高分辨率、高動態范圍以及廣覆蓋的光譜響應，為多個前沿領域提供了精準的光譜分析支持：
激光器研發與微納加工制造
精確測量半導體激光器（如 DFB-LD、FP-LD）及各類脈沖/連續激光器的中心波長、邊模抑制比（SMSR）、光譜線寬與功率穩定性，為激光器件的研發、封裝測試及加工質量控制提供關鍵參數依據
光通信系統與無源/有源器件測試
內置 DWDM（OSNR）、EDFA 等專業測試套件，可高效用于密集波分復用系統的信道性能評估、光放大器增益與噪聲指數測量，以及光纖濾波器、陣列波導光柵（AWG）等無源器件的傳輸特性測試
前沿光譜科研與環境氣體監測
結合 300 nm – 5500 nm 的寬波段擴展能力，適用于光纖傳感（FBG/分布式傳感）信號解調、非線性光學研究，以及溫室氣體的高靈敏度吸收光譜分析
▲ATM6370的光譜分辨率測試，結果標明：儀器分辨率0.02nm
▲ATM6370實測光譜圖：高動態 ·低噪聲
從替代進口到自主突破，奧譜天成正在做什么
一臺儀器的價值，不僅限于參數上的數據，更在于能否為光電產業筑牢自主可靠的檢測基石。
從十余年深耕光譜，到布局光譜分析領域，奧譜天成將自身的光譜技術積累延伸至更多光電產業核心應用。CIOE 2026 現場，劉鴻飛博士的專題報告洞察行業痛點，ATM6370超高分辨率光譜分析儀（OSA）則以硬核產品力回應市場期待。
從國產替代到突破，從精準測量到深度分析，奧譜天成為光電產業提供更多國產測試儀器選擇。
9月9日—11日，深圳國際會展中心4號館C031
歡迎蒞臨奧譜天成展位，現場了解ATM6370超高分辨率光譜分析儀（OSA），共探光譜儀器國產化新方向。
